服務熱線：
010-85235885
腐蝕測試解決方案
腐蝕檢測的新型雙晶線性陣列探頭，與常規超聲雙晶探頭相比，具有更多的優勢特性。這種相控陣解決方案，通過諸如更大的聲束覆蓋范圍、更快的掃查速度，及具有更高數據點密度的C掃描成像等特性，提高了檢測的生產力。與標準的相控陣脈沖回波相比，這款新探頭所使用的一發一收技術在腐蝕測量應用中可提供更好的近表面分辨率及更強大的點蝕探測能力，從而可提高關鍵性壁厚減薄的探出率。
探頭特性
近表面1毫米的探測性能。
32毫米的聲束覆蓋寬度。
快速調整系統，可適用于直徑從4英寸到平面材料的檢測。
硬質合金防磨板，可保護楔塊。
輕型鋁質外殼。
編碼數據采集即需即用。
USB秘鑰中的OmniScan配置文件（MX、MX2和SX）。
OmniScan軟件特性
側視圖、端視圖和頂視圖成像（B掃描、S掃描和C掃描）。
同時表現波幅和渡越時間的C掃描成像，此外還帶有厚度讀數。
完整的高分辨率A掃描存儲。
兩個可配置的探測閘門。
在OmniScan或一個使用OmniPC的計算機中進行離線分析的性能。
全新的解決方案，相同的OmniScan
雙晶線性陣列探頭的出現為現有的奧林巴斯HydroFORM和RexoFORM腐蝕解決方案增添了一種新型、低成本的入門級檢測性能，特別是在與OmniScan SX儀器一起使用時。在將這種探頭與一款OmniScan相控陣儀器（PR或非PR）一起使用時，設置與操作步驟非常簡單：導入設置文件，校準儀器，然后進行檢測并記錄數據。
在探頭上安裝一個編碼器即可為用戶提供在儀器上生成C掃描的功能。其創新性探頭穩定系統可使探頭在直徑小到4英寸的管道表面上進行平滑的數據采集。通常，碳鋼中的檢測深度范圍為1毫米到80毫米。
雙晶陣列一發一收技術
與雙晶UT探頭一樣，雙晶線性陣列探頭包含一組發射晶片和一組接收晶片，這兩組晶片被分別安裝在以一定角度斷開的延遲塊的兩部分上。這種配置可以生成在被測工件表面以下聚焦的聲束，從而可極大地降低表面反射的波幅。這種配置還可以提高近表面分辨率，得到對諸如點蝕、蠕變損傷、和HIC（氫致裂紋）等關鍵性缺陷的更高的探出率。
探頭特性
近表面1毫米的探測性能。
32毫米的聲束覆蓋寬度。
快速調整系統，可適用于直徑從4英寸到平面材料的檢測。
硬質合金防磨板，可保護楔塊。
輕型鋁質外殼。
編碼數據采集即需即用。
USB秘鑰中的OmniScan配置文件（MX、MX2和SX）。
OmniScan軟件特性
側視圖、端視圖和頂視圖成像（B掃描、S掃描和C掃描）。
同時表現波幅和渡越時間的C掃描成像，此外還帶有厚度讀數。
完整的高分辨率A掃描存儲。
兩個可配置的探測閘門。
在OmniScan或一個使用OmniPC的計算機中進行離線分析的性能。
全新的解決方案，相同的OmniScan
雙晶線性陣列探頭的出現為現有的奧林巴斯HydroFORM和RexoFORM腐蝕解決方案增添了一種新型、低成本的入門級檢測性能，特別是在與OmniScan SX儀器一起使用時。在將這種探頭與一款OmniScan相控陣儀器（PR或非PR）一起使用時，設置與操作步驟非常簡單：導入設置文件，校準儀器，然后進行檢測并記錄數據。
在探頭上安裝一個編碼器即可為用戶提供在儀器上生成C掃描的功能。其創新性探頭穩定系統可使探頭在直徑小到4英寸的管道表面上進行平滑的數據采集。通常，碳鋼中的檢測深度范圍為1毫米到80毫米。
雙晶陣列一發一收技術
與雙晶UT探頭一樣，雙晶線性陣列探頭包含一組發射晶片和一組接收晶片，這兩組晶片被分別安裝在以一定角度斷開的延遲塊的兩部分上。這種配置可以生成在被測工件表面以下聚焦的聲束，從而可極大地降低表面反射的波幅。這種配置還可以提高近表面分辨率，得到對諸如點蝕、蠕變損傷、和HIC（氫致裂紋）等關鍵性缺陷的更高的探出率。
聯系方式
contact
電話：010-8523 5885
Email：contact@top-industrie.cn
地址：北京市朝陽區常惠路6號北辰V中心B座10層
郵編：100024